温度冲击试验技术服务
自由跌落试验技术服务
手机屏幕寿命测试技术服务
耳机插拔测试技术服务
电池充放电测试技术服务
定向跌落试验技术服务
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低温测试技术服务

耳机插拔测试技术服务


1.耳机插拔实验标准:
    中国移动TD终端测试规范-结构及硬件V2.0,YD/T 1539-2006

2. 耳机插拔实验方法:
    (1) 对试验样品进行外观、功能的检测。
    (2) 测试并记录测试样品的耳机的拔出力值。
    (3) 测试样品处于开机状态,固定好测试样品,以10-20次/分钟的测试速度进行耳机插拔测试1000次。
    (4) 在完成插拔后,对测试样品进行外观、功能的检测,测量拔出力值。

3. 耳机插拔判断标准:
    (1) 测试样品功能不能发生任何失效或着削减,如耳机声音、耳机功能键等。
    (2) 连接器部件不能有任何结构的损坏或材料的明显退化,如明显的磨损,开裂,变形等。
    (3) 测试后连接器的拔出力值应该在测试前的70-130%之间。
手机耳机插拔寿命测试

如需了解更多耳机插拔实验信息,请咨询上海世复检测
公司网址:http://www.sft-lab.com.cn  
服务热线:021-65667889
公司邮箱:E-mail:sales@sft-lab.com.cn
公司地址:上海市宝山区逸仙路1277号1楼

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